1、雙鏡頭斜入射光學系統提高了粒度測試的精度

 

Bettersize3000采用雙鏡頭斜入射的精密光學系統，探測角度達0.02-165°，測量范圍達到0.01-3500μm，無論是毫米級顆粒，微米級顆粒，還是納米級顆粒，系統都能地捕捉，從原理上充分保障了測量精度和更高的性能。目前國外激光粒度儀普遍采用雙光源光學系統來增大探測角度，提升測試范圍，包括同軸雙光束系統和異軸雙光束系統。

 

與雙光束系統相比，百特雙鏡頭斜入射光學系統有明顯優勢，一是可靠性高。因為雙鏡頭增加的是一個無源器件——鏡頭，雙光束增加的是一個有源器件——激光器，無源器件的壽命和可靠性遠遠高于有源器件。二是基準。百特光學系統是單一偏振光光源，各個探測器上接收的散射光強基準都是源于這個光源，具有的基準。而雙光束系統是兩個光源，各個探測器上接受到的散射光強基準有兩個，會造成測量誤差。第三，信號連續。雙鏡頭系統在所有探測器上的信號是連續采集、沒有間斷的。而雙光源系統，兩個光源輪流工作，每個光源對應一組散射信號，反演計算時需要將這兩組信號進行擬合，造成數據的不連續、不完整，對測量結果有很大影響。第四，樣品折射率測量功能。樣品的折射率是激光粒度分析的重要參數，并且它與波長有關。Bettersize3000能得到任何樣品的折射率，從而保證對未知折射率（包括實部和虛部）的樣品能準確測量其粒度分布。而多光束系統采用不同波長的光源，照理應有多個的折射率，而實際上是用一個折射率，將直接影響細顆粒的粒度測試準確性。

 

2、Bettersize3000動態粒形分析-粒度和粒形二合一

除具有*的粒度測試性能外，Bettersize3000Plus還有動態粒形分析功能，成為粒度和粒形二合一分析系統。動態粒形分析系統包括顯微鏡、高速攝像機和高速圖像處理軟件三部分組成，分析的粒形參數包括顆粒的圓形度、長徑比、徑厚比、大粒徑等。同時，就粒度測試而言，可視化的顆粒圖像成為激光粒度儀上的一個明亮的“眼睛”，與激光法粒度數據相互認證，使粒度測試更具有真實性。

 

Bettersize3000是百特粒度粒形分析技術達到的新高度，它所集成的雙鏡頭技術、折射率測量技術、激光散射/顯微圖像二合一技術、一鍵操作技術等粒度粒形分析技術，代表著粒度粒形分析技術發展的新成果。